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紫外可见近红外光分光光谱仪

更新时间:2018-05-16

简要描述:

紫外可见近红外光分光光谱仪
多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。

免费咨询:010-6202 9100

发邮件给我们:sales@nmerry.com

紫外可见近红外光分光光谱仪

特点

  • 多通道分光光谱仪高速量测紫外光(UV)、可见光(VIS)、近红外光(NIR)光谱。
  • 功能丰富的专用软体,可进行显微分光、发光光源、表面反射率、穿透率、色度、膜厚等光谱量测。
  • 适用于低辉度(0.3cd/m2),如萤光、电浆发光等微弱光以及光源、显示器量测。
  • 16msec的高速光谱解析。
  • 灵活坚固的光纤搭配多元的选配附件,可架设于生产线上、真空环境或嵌入于现有设备中即时性量测。

紫外可见近红外光分光光谱仪量测项目

  • 发光光谱测量
  • 色度测量
  • 透过率反射率测量

规格 

 

28C

310C

3595C

SC

波长范围

220~800 nm

300~1000 nm

350~950 nm

380~780 nm

分光元件

全息成像光栅、F=3、f=135mm

波长精度*1

±0.3 nm

±0.5 nm

±0.3 nm

±0.3 nm

感光元件*2

电子制冷型光电二极管阵列(PDA)

 

512ch

1024ch

512ch>

1024ch

512ch

1024ch

512ch

1024ch

解析能力

1.2nm

0.6nm

1.7nm

0.9nm

1.3nm

0.6nm

0.9nm

0.5nm

曝光时间*3

16msec ~ 20sec

光纤规格

石英制光纤、固定口径φ12mm、长约1m

通讯介面

USB or LAN

尺寸重量

300(W)x 170(H)x 350(D)mm、约10kg

*1 波长校正用光源对汞物理辉线之确认值
*2 可选择512ch或1024ch
*3 感度设定为Normal时

 

应用:

  • 发光光谱分析仪系统
  • 反射光谱分析仪系统
  • 穿透、吸收光谱分析仪系统
  • 色度光谱分析仪系统
  • 光源光谱分析仪系统(色度/辉度/照度)
  • 膜厚光谱分析仪系统
  • 萤光光谱分析仪系统
  • 双折射相位差光谱分析仪
  • 微光学元件光谱分析仪系

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